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국립순천대학교는 첨단정밀분석 장비 2종 도입-FIB-SEM, FE-TEM (사진 = 순천대)

(전남=NSP통신) 남정민 기자 = 국립순천대학교(총장 이병운)가 원자 단위까지 정밀 분석이 가능한 첨단 장비를 도입하며 연구·교육 인프라를 한층 강화한다.

순천대는 공동실험실습관에 ‘FIB-SEM(집속이온빔-주사전자현미경)’과 ‘FE-TEM(전계방출-투과전자현미경)’ 등 고해상도 정밀분석장비 2종을 신규 구축하고 2025년부터 본격 가동에 들어간다고 19일 밝혔다.

이번 첨단 장비 도입은 나노기술, 첨단소재, 반도체, 생명과학 등 다양한 분야에서 고도화된 분석 및 가공 수요가 증가하는 데 따른 것으로 연구 역량 제고는 물론 실험 실습 교육 품질 향상에도 기여할 것으로 기대된다.

‘FIB-SEM’은 시료에 집속된 이온빔을 조사해 생성된 전자 및 이온 신호를 분석하는 장비로 시료의 표면 및 단면을 나노 단위로 고해상도 관찰할 수 있다. 특히 반도체 단면 가공, 3차원 구조 분석, TEM 시편 제작 등 고정밀 나노 가공에 폭넓게 활용된다.

‘FE-TEM’은 전자빔을 시료에 투과시켜 원자 수준의 미세 구조를 분석하는 고성능 장비로 재료 내부의 결정 구조나 성분 분석(EDS 연계) 등에서 필수적인 역할을 수행한다. 기초과학부터 응용기술까지 다양한 연구에 활용될 전망이다.

이민아 국립순천대 공동실험실습관장은 “이번 첨단 장비 도입으로 교내외 연구자뿐만 아니라 산학협력 기업과 외부 기관의 정밀 분석 수요에 효과적으로 대응할 수 있게 됐다”며 “앞으로도 고성능 분석 장비 인프라를 지속 확충하고 학생 교육에도 적극 활용해 지역 연구 거점으로서의 역할을 더욱 강화하겠다”고 말했다.

NSP통신 남정민 기자(njm8827@nspna.com)

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